走査型電子顕微鏡(そうさがたでんしけんびきょう / SEM)

細く絞った電子線を試料の表面にあてて走査し、はね返ってきた電子を集めて像にする顕微鏡。光学顕微鏡では見えない、1000分の1ミリよりさらに細かい凹凸を、立体的に観察できます。

試料は乾かして金などの薄い膜をかぶせる必要があるため、生きたまま観察することはできません。ヘビの鱗の表面を調べる研究で脱皮殻がよく使われるのは、このためでもあります。